技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES高能量飛秒激光器是一種怎樣的激光技術(shù)設(shè)備呢
2025-03-05 高能量飛秒激光器是一種激光技術(shù)設(shè)備，能夠產(chǎn)生高能量、短脈沖(飛秒級(jí)，即10^-15秒)的激光束。以下是對(duì)高能量飛秒激光器的詳細(xì)介紹：高能量飛秒激光器通過特殊的激光放大技術(shù)，將激光脈沖壓縮到飛秒量級(jí)，同時(shí)保持較高的能量輸出。特點(diǎn)：高峰值功率：盡管脈沖寬度短，但飛秒激光的峰值功率很高，適用于需要高能量密度的加工和研究。短脈沖寬度：脈沖寬度在飛秒量級(jí)，能夠在短的時(shí)間內(nèi)與物質(zhì)相互作用，減少熱效應(yīng)和沖擊波的產(chǎn)生。高精度：能夠聚焦到很小的空間區(qū)域，實(shí)現(xiàn)高精度的加工和測(cè)量。市場(chǎng)與發(fā)展趨勢(shì)市...半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀是一種用于檢測(cè)半導(dǎo)體晶圓表面缺陷的設(shè)備
2025-02-11 ?半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀主要用于檢測(cè)半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷，確保芯片的質(zhì)量和性能?。這些設(shè)備利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，快速且有效地檢測(cè)晶圓表面的缺陷，如位錯(cuò)、顆粒、凹坑、劃痕和污染等?半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀主要利用光學(xué)或電子束技術(shù)，通過檢測(cè)材料表面的微觀結(jié)構(gòu)和電學(xué)特性的異常來識(shí)別缺陷。這些缺陷可能包括晶體缺陷(如位錯(cuò)、晶界)、化學(xué)缺陷(如雜質(zhì))、結(jié)構(gòu)缺陷(如孔洞、裂紋)以及工藝缺陷(如氧化層缺陷、光刻缺陷)等。檢測(cè)儀通過測(cè)量半導(dǎo)體材料或器...科研級(jí)CCD相機(jī)在現(xiàn)代科研中的應(yīng)用與重要性
2024-12-02 在現(xiàn)代科學(xué)研究中，圖像捕捉技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色?？蒲屑?jí)CCD相機(jī)作為一種高精度的圖像捕捉設(shè)備，已經(jīng)成為許多科學(xué)領(lǐng)域重要的工具。定義與特點(diǎn)科研級(jí)CCD相機(jī)是指那些專為科研目的設(shè)計(jì)的高靈敏度、高分辨率的電荷耦合器件（Charge-CoupledDevice）相機(jī)。它們通常具備以下特點(diǎn)：高靈敏度：能夠捕捉微弱的光信號(hào)，適合在低光照條件下工作。高分辨率：提供高清晰度的圖像，以滿足科研中對(duì)細(xì)節(jié)的嚴(yán)格要求。穩(wěn)定性：在長時(shí)間曝光或連續(xù)拍攝中保持圖像質(zhì)量的一致性。靈活性：能夠適應(yīng)不同的科...光纖飛秒激光器是一種發(fā)揮著重要作用的激光設(shè)備
2024-11-08 ?光纖飛秒激光器?是一種具有飛秒脈沖的激光器，其脈沖持續(xù)時(shí)間在飛秒(10^-15秒)量級(jí)。光纖飛秒激光器的主要特點(diǎn)包括小型化、便攜化、風(fēng)冷卻、低成本和穩(wěn)定性高等?。光纖飛秒激光器是以光纖為基質(zhì)，能夠產(chǎn)生飛秒量級(jí)超短脈沖的激光器。其特點(diǎn)主要包括小型化、便攜化、風(fēng)冷卻、低成本和穩(wěn)定性高等。這些特點(diǎn)使得光纖飛秒激光器在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中具有廣泛的前景。光纖飛秒激光器通常由增益介質(zhì)、激勵(lì)能源和光學(xué)諧振腔三部分組成。增益介質(zhì)使受激輻射強(qiáng)度超過受激吸收強(qiáng)度，激勵(lì)能源提供必要的能量輸入，...顯微分光膜厚儀：精密測(cè)量技術(shù)下的薄膜厚度分析儀器
2024-10-15 在科技日新月異的今天，各種精密測(cè)量儀器不斷涌現(xiàn)，為科研、工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。其中，顯微分光膜厚儀作為一種先進(jìn)的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備，憑借其高精度、非破壞性和多功能性，在薄膜材料研究領(lǐng)域占據(jù)了舉足輕重的地位。顯微分光膜厚儀的工作原理基于光的干涉和分光原理。當(dāng)光線照射到薄膜表面時(shí)，會(huì)發(fā)生反射和透射現(xiàn)象。這些光線在薄膜的前后表面之間多次反射，形成干涉條紋。通過分光技術(shù)，將這些干涉條紋分解為不同波長的光譜，并測(cè)量其強(qiáng)度分布，就可以計(jì)算出薄膜的厚度、折射率等參數(shù)...公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號(hào)：滬ICP備19020138號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
當(dāng)前位置：